EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур. - Стандарты и спецификации PDF

EN 62047-13:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.

Стандартный №
EN 62047-13:2012
Дата публикации
2012
Разместил
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Последняя версия
EN 62047-13:2012

EN 62047-13:2012 История

  • 2012 EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.



© 2023. Все права защищены.