VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости. - Стандарты и спецификации PDF

VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.

Стандартный №
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
Дата публикации
2010
Разместил
Association of German Mechanical Engineers
Последняя версия
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
 

сфера применения
Руководство описывает процедуры калибровки конфокальных микроскопов и эталоны установки глубины для измерения шероховатости и тем самым устанавливает основу для прослеживаемости измерительных систем до национальных стандартов. Сначала описывается процедура определения калибровочных возможностей. Указаны дополнительные основные условия калибровки, а также минимальные требования к процедуре калибровки. В заключение уточняются требования к отчету о калибровке. Дополняет инструкцию конформная модель GUM для определения неопределенности измерения.

VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 История

  • 2010 VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
  • 2009 VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2009 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.
Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.

стандарты и спецификации

VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2009 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости. VDI/VDE 2655 BLATT 1.2-2010 Технология оптических измерений микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталоны глубины для измерения шероховатости. VDI VDE 2655 Blatt 1-2-2010 Оптическое измерение микротопографии - Калибровка конфокальных микроскопов и глубинных эталонов для измерения шероховатости VDI VDE 2655 Blatt 1-1-2008 VDI/VDE 2655 Часть 1.1 VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Оптические измерения и микротопография. Калибровка интерференционных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости AS 2536:1982 Текстура поверхности VDI/VDE 2602 Blatt 4-2014 Измерение поверхности. Измерение шероховатости с помощью контактных (щуповых) инструментов. Калибровка, неопределенность измерения DIN EN ISO 25178-70 E:2011-08 Геометрическая спецификация изделия (GPS). Структура поверхности: плоская. Часть 70. Измерение материала (черновик GJB/J 6220-2008 Спецификация калибровки для ИК-оптического оборудования для измерения фокусного расстояния



© 2025. Все права защищены.