IEC 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.
В этой части IEC 62047 описаны термины@ определение@ символы@ конфигурации@ и методы испытаний, которые можно использовать для оценки и определения рабочих характеристик резонатора@ фильтра@ BAW и дуплексных устройств в качестве устройств управления и выбора радиочастоты. Настоящий стандарт определяет методы испытаний и общие требования к резонаторным, фильтрующим и дуплексным устройствам BAW, качество которых оценивается с использованием процедур утверждения возможностей или квалификации.
IEC 62047-7:2011 История
2011IEC 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.