IEC 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 62047-7:2011
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.

Стандартный №
IEC 62047-7:2011
Дата публикации
2011
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 62047-7:2011
заменять
IEC 47F/79/FDIS:2011
сфера применения
В этой части IEC 62047 описаны термины@ определение@ символы@ конфигурации@ и методы испытаний, которые можно использовать для оценки и определения рабочих характеристик резонатора@ фильтра@ BAW и дуплексных устройств в качестве устройств управления и выбора радиочастоты. Настоящий стандарт определяет методы испытаний и общие требования к резонаторным, фильтрующим и дуплексным устройствам BAW, качество которых оценивается с использованием процедур утверждения возможностей или квалификации.

IEC 62047-7:2011 История

  • 2011 IEC 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.



© 2023. Все права защищены.