ISO 13084:2011
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
- Стандартный №
- ISO 13084:2011
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- состояние
- быть заменен
- ISO 13084:2018
- Последняя версия
- ISO 13084:2018
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод оптимизации точности калибровки массы во времяпролетных приборах SIMS, используемых для общих аналитических целей. Он применим только к времяпролетным приборам, но не ограничивается какой-либо конкретной конструкцией приборов. Предоставляются рекомендации для некоторых параметров прибора, которые можно оптимизировать с помощью этой процедуры, а также типов общих пиков, подходящих для калибровки шкалы масс для достижения оптимальной точности массы.
ISO 13084:2011 История
- 2018 ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
- 2011 ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
Специальные темы по стандартам и нормам
масс-спектрометрия с ионной ловушкой масс-спектрометрия
вторичная ионная хроматография
Ионное время полета
Метод ионизации масс-спектрометра
Ионное время полета
масс-спектрометр полетный масс-спектрометр
масс-спектрометр полетный масс-спектрометр
масс-спектрометрия положительных ионов
летная масс-спектрометрия масс-спектрометрия
масс-спектрометрия с ионной ловушкой
масс-спектрометрия с ионной ловушкой
Анализ вторичной ионной хроматографии
стандарты и спецификации
ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
BS ISO 13084:2018 анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс времяпролетного масс
OS GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
JIS K 0157:2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
BH GSO ISO 13084:2016 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
GSO ISO 13084:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
10/30199193 DC . Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс
ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности при динамическом масс-спектрометрии вторичных ионов
BS ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности в динамической масс-спектрометрии вторичных ионов