EN 62374-1:2010
Полупроводниковые устройства. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (с исправлением, апрель 2011 г.)

Стандартный №

EN 62374-1:2010

Дата публикации

2010

Разместил

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Последняя версия

EN 62374-1:2010

EN 62374-1:2010 История

• 2010 EN 62374-1:2010 Полупроводниковые устройства. Часть 1. Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев (с исправлением, апрель 2011 г.)