ASTM D4093-95(2010) Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
Наблюдение и измерение деформаций в прозрачных или полупрозрачных материалах широко используются в различных методах моделирования экспериментального анализа напряжений. Можно оценить внутренние напряжения, возникающие в производственных процессах, таких как литье, формование, сварка, экструзия и растяжение полимера, и выявить детали, демонстрирующие чрезмерные деформации. Такие измерения могут привести к устранению дефектных деталей, совершенствованию процесса, контролю операции отжига и т. д. При проверке физических свойств требуется полярископическое исследование образцов для исключения образцов с аномальным уровнем внутренней деформации (или дефектов). Например: Методы испытаний D638 (примечание 8) и D882 (примечание 11) рекомендуют полярископическое исследование. Двойное лучепреломление ориентированных полимеров может быть связано с ориентацией, усадкой и т. д. Измерения двойного лучепреломления помогают характеризовать эти полимеры. Для многих материалов могут существовать спецификации, требующие использования этого метода испытаний, но с некоторыми процедурными изменениями, которые имеют приоритет при соблюдении спецификации. Поэтому перед использованием этого метода испытаний рекомендуется ознакомиться со спецификациями этого материала. В таблице 1 системы классификации D4000 перечислены стандарты материалов ASTM, существующие в настоящее время. 1.1 Этот метод испытаний охватывает измерения направления основных деформаций, &#ε1 и &#ε2, и фотоупругого замедления, &#& #x03B4; с использованием компенсатора для анализа деформаций прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалов. Этот метод испытаний можно использовать для измерения двойного лучепреломления и определения разницы главных деформаций или нормальных деформаций, когда главные направления существенно не изменяются на пути света. 1.2 Помимо метода с использованием компенсатора, описанного в настоящем методе испытаний, используются и другие методы, такие как гониометрический метод (с использованием вращения анализатора), который обычно применяется для измерения небольшого запаздывания и выражения его в долях длины волны. Возможны также невизуальные методы, использующие спектрофотометрические измерения и исключающие фактор человеческого суждения. 1.3 Данные испытаний, полученные с помощью этого метода испытаний, актуальны и пригодны для использования при инженерном проектировании. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ или дюймах-фунтах, следует рассматривать как стандартные. Значения, указанные в каждой системе, не могут быть точными эквивалентами; поэтому каждая система должна использоваться независимо от другой. Объединение значений из двух систем может привести к несоответствию стандарту. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Примечание 18212; Эквивалент этого метода испытаний по ISO неизвестен.
ASTM D4093-95(2010) История
2023ASTM D4093-23 Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
1995ASTM D4093-95(2014) Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
1995ASTM D4093-95(2010) Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
1995ASTM D4093-95(2005)e1 Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
1995ASTM D4093-95(2001)e1 Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах
2001ASTM D4093-95 Стандартный метод испытаний для фотоупругих измерений двойного лучепреломления и остаточных деформаций в прозрачных или полупрозрачных пластиковых материалах