IEC 60444-11:2010
Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 11. Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной емкости нагрузки CLeff с использованием метода автоматического анализатора цепей и коррекции ошибок.
- Стандартный №
- IEC 60444-11:2010
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60444-11:2010
- сфера применения
- Эта часть IEC 60444 определяет стандартный метод измерения резонансной частоты нагрузки f при номинальном значении C и определения эффективной емкости нагрузки C при номинальной частоте для кристаллов с добротностью M > 4. M в соответствии с Таблица 1 стандарта IEC 60122-1-2002 выражена следующим уравнением: Это дает хорошие результаты в диапазоне частот до 200 МГц. Этот метод позволяет рассчитать сдвиг резонансной частоты нагрузки Δf, диапазон частоты Δf и чувствительность S к тянущему усилию, как описано в 2.2.31 стандарта IEC 60122-1-2002. В отличие от простого метода МЭК 60444-4, этот метод измерения позволяет избежать использования физических нагрузочных конденсаторов и обеспечивает более высокую точность, лучшую воспроизводимость и корреляцию с применением. Он расширяет верхний предел частоты с 30 МГц по методу IEC 60444-4 примерно до 200 МГц. Этот метод основан на методе измерения с коррекцией ошибок согласно IEC 60444-5-1995 и, следовательно, позволяет измерять fLand C вместе с определением эквивалентных параметров кристалла в одной последовательности без замены испытательного приспособления. С помощью этого метода частота f находится там, где реактивное сопротивление XC кристалла имеет противоположное значение реактивному сопротивлению емкости нагрузки. Кроме того, этот метод позволяет определить эффективную емкость нагрузки C при номинальной частоте f.
IEC 60444-11:2010 История
- 2010 IEC 60444-11:2010 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 11. Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной емкости нагрузки CLeff с использованием метода автоматического анализатора цепей и коррекции ошибок.
