В этой части IEC 62433 определены макромодели ИС для моделирования кондуктивных электромагнитных излучений на печатной плате. Эту модель обычно называют Моделью выбросов интегральной схемы – кондуктивной эмиссией (ICEM-CE). Модель ICEM-CE также можно использовать для моделирования кристалла ИС, функционального блока и блока интеллектуальной собственности (IP). Модель ICEM-CE можно использовать для моделирования как цифровых, так и аналоговых микросхем.
BS EN 62433-2:2010 Ссылочный документ
IEC 61967 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Метод полосковой линии ИС.*， 2023-05-03 Обновление
IEC 61967-4 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой связи 1 Ом/150 Ом.*， 2021-03-16 Обновление
BS EN 62433-2:2010 История
2017BS EN 62433-2:2017 Моделирование ЭМС ИС. Модели интегральных схем для моделирования поведения электромагнитных помех. Моделирование кондуктивных выбросов (ICEM-CE)
2010BS EN 62433-2:2010 Моделирование EMC IC. Модели интегральных схем для моделирования поведения электромагнитных помех. Моделирование кондуктивных выбросов (ICEM-CE).