SJ/T 11399-2009
Методы измерения микросхем светодиодов (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11399-2009

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2009

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 11399-2009

сфера применения

Настоящий стандарт определяет методы испытаний радиометрических, фотометрических, хроматических, электрических, тепловых параметров и электромагнитной совместимости полупроводниковых светодиодных чипов. Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые светодиоды видимого света. В качестве эталона можно провести тестирование ультрафиолетовых и инфракрасных светодиодных чипов и эпитаксиальных пластин.

SJ/T 11399-2009 Ссылочный документ

• GB/T 11499-2001 Буквенные обозначения дискретных полупроводниковых приборов
• GB/T 15651-1995 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 5: Оптоэлектронные устройства
• GB/T 5698-2001  Словарь цветовых терминов
• SJ/T 11394-2009 Методы измерения полупроводниковых светодиодов

SJ/T 11399-2009 История

• 2009 SJ/T 11399-2009 Методы измерения микросхем светодиодов