EN 60749-35:2006
Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

Стандартный №

EN 60749-35:2006

Дата публикации

2006

Разместил

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Последняя версия

EN 60749-35:2006

EN 60749-35:2006 История

• 2006 EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах