EN 60749-3:2002
Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.

Стандартный №

EN 60749-3:2002

Дата публикации

2002

Разместил

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

состояние

быть заменен

быть заменен

EN 60749-3:2017

Последняя версия

EN 60749-3:2017

EN 60749-3:2002 История

• 2017 EN 60749-3:2017 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.
• 2002 EN 60749-3:2002 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.