В этой части IEC 62433 определены макромодели ИС для моделирования кондуктивных электромагнитных излучений на печатной плате. Эту модель обычно называют Моделью выбросов интегральной схемы – кондуктивной эмиссией (ICEM-CE). Модель ICEM-CE также можно использовать для моделирования кристалла ИС, функционального блока и блока интеллектуальной собственности (IP). Модель ICEM-CE можно использовать для моделирования как цифровых, так и аналоговых микросхем. По сути, кондуктивные излучения имеют два источника: ~ кондуктивные излучения через клеммы электропитания и наземные опорные конструкции; ~ Кондуктивные излучения через клеммы входа/выхода (1/O). Модель ICEM-CE рассматривает эти два типа происхождения в рамках единого подхода. Этот стандарт определяет структуры и компоненты макромодели для моделирования электромагнитных помех с учетом внутренней деятельности ИС. Этот стандарт предоставляет общие данные, которые могут быть реализованы в различных форматах или языках, таких как IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS и Verilog. Однако SPICE выбран в качестве среды моделирования по умолчанию, чтобы охватить все кондуктивные излучения. Этот стандарт также определяет требования к информации, которая должна быть включена в каждую модель ICEM-CE или ее составную часть для распространения модели, но синтаксис описания не входит в сферу применения настоящего стандарта.
IEC 62433-2:2008 Ссылочный документ
IEC 61967 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 8. Измерение излучаемого излучения. Метод полосковой линии ИС.*， 2023-05-03 Обновление
IEC 61967-4 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой связи 1 Ом/150 Ом.*， 2021-03-16 Обновление
IEC 62433-2:2008 История
2017IEC 62433-2:2017 Модели интегральных схем для CEM - Часть 2: Модели интегральных схем для моделирования поведения электромагнитных возмущений - Моделирование трубопроводов излучений (ICEM-CE) (Издание 2.0)
2008IEC 62433-2:2008 Моделирование ЭМС-ИС. Часть 2. Модели интегральных схем для моделирования поведения электромагнитных помех. Моделирование кондуктивных выбросов (ICEM-CE)