Целью этой практики является оценка однородности партии материала, выбранной в качестве кандидата на разработку в качестве эталонного материала или сертифицированного эталонного материала, или для L/B, выбранного для какой-либо другой цели (примеры см. в Приложении X1 – Приложении X4). ). Эта практика применима к испытаниям образцов, взятых на различных этапах производства. Например, образцы непрерывнолитых материалов, слитков, проката, проволоки и т. д. можно отбирать и тестировать на различных этапах производственного процесса. 1.1 Этот метод подходит для проверки однородности партии или партии металла (L/B). в твердой форме методом искровой атомно-эмиссионной спектрометрии (Spark-AES). Он соответствует Руководству ISO 35 «Сертификация эталонных материалов: общие и статистические принципы». Он в первую очередь предназначен для использования при разработке стандартных образцов, но может использоваться и в любых других случаях, когда L/B необходимо проверить на однородность. Он предназначен для обеспечения комбинированного исследования однородности внутри и между подразделениями такого L/B. 1.2 Данная методика предназначена в первую очередь для проверки элементной однородности металла L/B с помощью Spark-AES. Однако его можно адаптировать для использования с другими инструментальными методами, такими как рентгенофлуоресцентная спектрометрия (XRF) или атомно-абсорбционная спектрометрия (ААС). Примечание 18212; Эта практика не ограничивается элементным анализом или методами. Эту практику можно применить к любому свойству, которое можно измерить, например, к свойству твердости, измеренному по методу Роквелла. 1.3 Критерии приемки образцов для испытаний должны быть определены заранее. То есть максимально приемлемый уровень неоднородности должен определяться на основе предполагаемого использования L/B. 1.4 Предполагается, что аналитик обучен методам Spark-AES, включая процедуры подготовки образцов, необходимые для подготовки образцов к измерениям. Далее предполагается, что аналитик обладает знаниями и имеет доступ к компьютерному сбору и анализу данных. Методологию этой практики лучше всего использовать в компьютерных таблицах. 1.5 Эту практику можно применять к одному или нескольким элементам образца при условии, что отношение сигнала к фону не является ограничивающим фактором. 1.6 Эта практика включает методы коррекции систематического дрейфа прибора со временем. (Предупреждение 8212; Если произойдет дрейф, в результате анализа данных будут получены ошибочные выводы.) 1.7 Эта практика также включает методы уточнения оценок состава и неопределенности посредством использования типового стандарта или нескольких калибрантов. 1.8 Кроме того, он предоставляет средства сведения неоднородного набора к однородному подмножеству. 1.9 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E826-08 История
2014ASTM E826-14 Стандартная практика проверки однородности партии или партии металла в твердой форме методом искровой атомно-эмиссионной спектрометрии
2008ASTM E826-08(2013) Стандартная практика проверки однородности партии или партии металла в твердой форме методом искровой атомно-эмиссионной спектрометрии
2008ASTM E826-08 Стандартная практика проверки однородности партии или партии металла в твердой форме методом искровой атомно-эмиссионной спектрометрии
1985ASTM E826-85(1996)e1 Стандартная практика проверки однородности материалов для разработки эталонных материалов