JIS R 1660-1:2004
Метод измерения диэлектрических свойств тонкой керамики в диапазоне частот миллиметровых волн. Часть 1. Волноводный метод с отсечкой

Стандартный №

JIS R 1660-1:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS R 1660-1:2004

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод измерения диэлектрических свойств тонкой керамики для диэлектрических подложек с малыми потерями, используемых в основном в цепях миллиметрового диапазона, с использованием метода отсекающего цилиндрического волновода в диапазоне миллиметровых волн.

JIS R 1660-1:2004 История

• 2004 JIS R 1660-1:2004 Метод измерения диэлектрических свойств тонкой керамики в диапазоне частот миллиметровых волн. Часть 1. Волноводный метод с отсечкой