ASTM E668-05 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
Поглощенная доза в материале является важным параметром, который можно коррелировать с радиационными эффектами, возникающими в электронных компонентах и устройствах, подвергающихся воздействию ионизирующего излучения. Разумные оценки этого параметра можно рассчитать, если известны данные о поле излучения источника (то есть энергетическом спектре и флюенсе частиц). Достаточно подробная информация о радиационном поле обычно отсутствует. Однако измерения поглощенной дозы с помощью пассивных дозиметров в испытательной установке радиации могут предоставить информацию, на основе которой можно сделать вывод о поглощенной дозе в интересующем материале. При определенных предписанных условиях ДВУ вполне подходят для проведения таких измерений. Примечание 28212; Подробное обсуждение различных методов дозиметрии, применимых к типам излучения, энергии и диапазону мощности поглощенной дозы, обсуждаемых в этой методике, см. в отчетах ICRU 14, 17, 21 и 34.1.1. Эта методика охватывает процедуры использования термолюминесценции. дозиметры (ДЛД) для определения поглощенной дозы в материале, облученном ионизирующим излучением. Хотя некоторые элементы процедур имеют более широкое применение, конкретной областью беспокойства являются испытания электронных устройств на радиационную стойкость. Эта практика применима для измерения поглощенной дозы в материалах, облученных гамма-лучами, рентгеновскими лучами и электронами с энергией от 12 до 60 МэВ. Конкретные пределы энергии описаны в соответствующих разделах, описывающих конкретные применения процедур. Диапазон охватываемой поглощенной дозы составляет примерно от 102 до 10 4 Гр (от 1 до 106 рад), а диапазон мощности поглощенной дозы составляет примерно от 102 до 1010 Гр/с (от 1 до 1012 рад/с). Измерения поглощенной дозы и мощности поглощенной дозы в материалах, подвергнутых нейтронному облучению, не рассматриваются в данной практике. Кроме того, часть этих процедур, касающаяся электронного облучения, в первую очередь предназначена для использования при испытаниях деталей. Испытание устройств как части более массивных компонентов, таких как электронные платы или коробки, может потребовать методов, выходящих за рамки данной практики. Примечание 18212; Целью верхних и нижних пределов энергии электронного облучения является приближение к предельному случаю, когда дозиметрия упрощена. В частности, указанная методология дозиметрии требует соблюдения следующих трех предельных условий: (а) потери энергии первичных электронов невелики, (б) вторичные электроны в значительной степени задерживаются внутри дозиметра, и (в) тормозное излучение, генерируемое первичными электронами. электроны в значительной степени теряются.1.2 Эта стандартная доза не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с ее использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E668-05 История
2020ASTM E668-20 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2013ASTM E668-13 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2010ASTM E668-10 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2005ASTM E668-05 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2000ASTM E668-00 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость