ASTM F410-95 Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения - Стандарты и спецификации PDF

ASTM F410-95
Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения

Стандартный №
ASTM F410-95
Дата публикации
1995
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM F410-02
Последняя версия
ASTM F410-08(2022)
сфера применения
1.1 Настоящий метод испытаний охватывает определение толщины слоя износа эластичных нетекстильных напольных покрытий в форме плитки или листа, с войлочной подложкой или слоем вспененного материала или без него, путем оптического измерения. 1.2 Этот метод испытаний применим для слоев износа. с минимальной толщиной 0,0004 дюйма (0,01 мм) до максимальной толщиной 0,1 дюйма (2,54 мм), где допустимы измерения в пределах 0,0001 дюйма или 0,0025 мм. 1.3 Следует учитывать значения, указанные в единицах дюйм-фунт. как стандарт. Значения, указанные в скобках, предназначены только для информации. 1.4 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F410-95 История

  • 2022 ASTM F410-08(2022) Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения
  • 2017 ASTM F410-08(2017)
  • 2008 ASTM F410-08(2013) Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения
  • 2008 ASTM F410-08 Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения
  • 2002 ASTM F410-02 Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения
  • 1995 ASTM F410-95 Стандартный метод определения толщины слоя износа эластичных напольных покрытий путем оптического измерения



© 2023. Все права защищены.