ASTM F584-06
Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
- Стандартный №
- ASTM F584-06
- Дата публикации
- 2006
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- быть заменен
- ASTM F584-06e1
- Последняя версия
- ASTM F584-06e1
- сфера применения
- 1.1 Настоящая методика охватывает условия неразрушающего визуального контроля качества поверхности намотанной алюминиевой и золотой проволоки, используемой для выполнения внутренних соединений полупроводниковых приборов и гибридных микроэлектронных соединений. 1.2 Настоящая методика определяет рекомендуемое освещение, увеличение и расположение образцов для проверки намотанной проволоки под оптический микроскоп.1.3 Фотографии ( ) включены в качестве руководства, помогающего инспектору определить конкретные состояния поверхности. Эти фотографии не являются стандартами для определения качества поверхности проволоки. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандарт. Значения, указанные в скобках, предназначены только для информации. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM F584-06 Ссылочный документ
- ASTM F487 Стандартные спецификации для тонкой кремниевой проволоки с содержанием алюминия и 1% для соединения выводов полупроводников
- ASTM F72 Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
ASTM F584-06 История
- 2006 ASTM F584-06e1 Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
- 2006 ASTM F584-06 Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
- 1987 ASTM F584-87(2005) Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
- 1999 ASTM F584-87(1999) Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
