GB/T 17574.10-2003
Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2-10. Цифровые интегральные схемы. Пустая подробная спецификация для интегральных схем динамической памяти чтения/записи. (Англоязычная версия)

Стандартный №: GB/T 17574.10-2003
язык: Китайский, Доступно на английском
Дата публикации: 2003
Разместил: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия: GB/T 17574.10-2003

сфера применения: Система оценки качества электронных компонентов IEC соответствует уставу IEC и работает с разрешения IEC. Целью системы является определение процедуры оценки качества таким образом, чтобы электронные компоненты, выпущенные страной-участницей в соответствии с соответствующими спецификациями, одинаково принимались всеми другими странами-участницами без дальнейшего тестирования. Эта пустая подробная спецификация является одной из серии пустых детальных спецификаций для полупроводниковых устройств и используется вместе со следующими стандартами.

GB/T 17574.10-2003 История

2003 GB/T 17574.10-2003 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2-10. Цифровые интегральные схемы. Пустая подробная спецификация для интегральных схем динамической памяти чтения/записи.