DIN EN 60749-1:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения (IEC 60749-1:2002 + Исправ. 1:2003); Немецкая версия EN 60749-1:2003
- Стандартный №
- DIN EN 60749-1:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-1:2003-12
- Последняя версия
- DIN EN 60749-1:2003-12
- заменять
- DIN EN 60749:2002 DIN EN 60749-1:2002
- сфера применения
- Эта часть DIN EN 60749 применима к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам) и устанавливает положения, общие для всех остальных частей этой серии.
DIN EN 60749-1:2003 История
- 0000 DIN EN 60749-3:2018
- 2003 DIN EN 60749-1:2003-12 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения (IEC 60749-1:2002 + Исправ. 1:2003); Немецкая версия EN 60749-1:2003 / Примечание: DIN EN 60749 (2002-09) остается действительным наряду с данным стандартом до 1 октября 2005 г.
- 2003 DIN EN 60749-1:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения (IEC 60749-1:2002 + Исправ. 1:2003); Немецкая версия EN 60749-1:2003
- 0000 DIN EN 60749-1:2002
