ISO 12789-2:2008 Эталонные поля излучения. Моделирование нейтронных полей на рабочем месте. Часть 2. Основы калибровки, связанные с основными величинами. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 12789-2:2008
Эталонные поля излучения. Моделирование нейтронных полей на рабочем месте. Часть 2. Основы калибровки, связанные с основными величинами.

Стандартный №
ISO 12789-2:2008
Дата публикации
2008
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия
ISO 12789-2:2008

ISO 12789-2:2008 История

  • 2008 ISO 12789-2:2008 Эталонные поля излучения. Моделирование нейтронных полей на рабочем месте. Часть 2. Основы калибровки, связанные с основными величинами.



© 2023. Все права защищены.