Toggle navigation
Стартовая страница
TS 2206-1976
ОСНОВНЫЕ ПРОЦЕДУРЫ ЭКОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ И ЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ. ИСПЫТАНИЕ: СВОБОДНОЕ ПАДЕНИЕ.
Стартовая страница
TS 2206-1976
Стандартный №
TS 2206-1976
Дата публикации
1976
Разместил
TR-TSE
Последняя версия
TS 2206-1976
TS 2206-1976 История
1976
TS 2206-1976
ОСНОВНЫЕ ПРОЦЕДУРЫ ЭКОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ И ЭЛЕКТРОННОГО ОБОРУДОВАНИЯ. ИСПЫТАНИЕ: СВОБОДНОЕ ПАДЕНИЕ.
стандарты и спецификации
IS 2106 Pt.9-1964 Экологические испытания электронного оборудования. Часть IX. Испытание на падение
JEDEC JESD22-B111A.01-2024 JЕДЕЦ ТЕСТ МЕТОД ПОПАДЕНИЯ В ОБРАТНУЮ СТРОНЕynchronously translating...ECT ДЛЯ КОМПОНЕНТОВ НАБОРНОЙ ЭЛЕКТРОНИЧЕСКОЙ УЩЕРБА JESD22-B111A.01 (Обновление JESD22
IS 9000 Pt.7/Sec.4-1979 Основные процедуры испытаний электронных и электрических изделий на воздействие окружающей среды. Часть 7. Испытание на удар. Раздел 6. Испытание Ee: Отскок
BS CECC 00009:1982 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Базовая спецификация: основные процедуры испытаний и методы измерения электромеханических
IEC 60749-37:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра
BS EN 60749-37:2008 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра
CENELEC EN 60749-37-2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра (IEC
GSO IEC 60749-37:2014 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра
BS EN IEC 60749-37:2022 Отслеживаемые изменения. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Метод испытания падения уровня платы с использованием
© 2025. Все права защищены.