SR CEI 748-11-1-1992 Полупроводниковые приборы Интегральные схемы Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.
Целью этих испытаний является проверка соответствия внутренних материалов, конструкции и качества исполнения интегральных схем требованиям применимой спецификации. Эти тесты используются? Обычно перед крышкой или крышкой
SR CEI 748-11-1-1992 История
1992SR CEI 748-11-1-1992 Полупроводниковые приборы Интегральные схемы Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.