SIS SS-ISO 9067:1989 Системы обработки информации. Передача данных. Автоматические процедуры локализации неисправностей с использованием тестовых шлейфов.
В этом международном стандарте описаны процедуры локализации неисправностей с использованием тестовых шлейфов, и он применяется к DTE, которые подключены к DCE с помощью автоматического тестового шлейфа, стандартизированного в Рекомендациях CCITT1) серии V или серии X. В серии V средства управления DTE испытательными шлейфами через схемы обмена в интерфейсе DTE/DCE указаны в Рекомендациях CCITT V.24 и V.54. В серии X средства управления DTE испытательными шлейфами через схемы обмена или сигналы в интерфейсе DTE/DCE указаны в рекомендациях CCITT X.24, X.150 и в рекомендациях CCITT X.20 для отдельного интерфейса DTE/DCE. Х.20 бис, Х.21, Х.21 бис и Х.22. ПРИМЕЧАНИЯ 1 Рекомендация CCITT X.150 определяет определение тестовых шлейфов, принципы управления испытательными шлейфами и принципы представления показаний. Конкретные подробности, касающиеся реализации этих принципов, содержатся в отдельных рекомендациях по интерфейсу DTE/DCE. 2 Включение процедур испытаний, предусмотренных Рекомендациями серии I, подлежит дальнейшему изучению.