Настоящий международный стандарт определяет метод измерения локальной толщины металлических покрытий, оксидных слоев, фарфоровых или стеклянных эмалевых покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений с использованием оптического микроскопа. В хороших условиях при использовании оптического микроскопа метод способен дать абсолютную точность измерения 0,8 мкм; это определит пригодность метода для измерения толщины тонких покрытий.