DIN EN 60749-17:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение (IEC 60749-17:2003); Немецкая версия EN 60749-17:2003.

Стандартный №

DIN EN 60749-17:2003

Дата публикации

2003

Разместил

German Institute for Standardization

Последняя версия

DIN EN 60749-17:2003

заменять

DIN EN 60749-17:2002

сфера применения

Испытание нейтронным облучением проводится для определения подверженности полупроводниковых приборов деградации в нейтронной среде. Описанные здесь тесты применимы к интегральным схемам и дискретным полупроводниковым устройствам. Этот тест предназначен для применения в военной и космической сфере. Это разрушительное испытание.

DIN EN 60749-17:2003 История

• 2003 DIN EN 60749-17:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 17. Нейтронное облучение (IEC 60749-17:2003); Немецкая версия EN 60749-17:2003.
• 0000 DIN EN 60749-17:2002