Этот стандарт описывает процедуры коррекции температуры и освещенности в измеренных ВАХ фотоэлектрических устройств на основе кристаллического кремния. Он включает процедуры определения температурных коэффициентов, внутреннего последовательного сопротивления и поправочного коэффициента кривой. Эти процедуры применимы в диапазоне освещенности ± 30% от уровня, на котором проводились измерения. Примечания I. — Эти процедуры применимы только к линейным устройствам. 2. — Фотоэлектрические устройства включают один солнечный элемент, сборку солнечных элементов или плоский модуль. Для каждого типа устройства применяются разные наборы значений. Хотя определение температурных коэффициентов для модуля (или комплекта элементов) может быть рассчитано на основе измерений отдельных элементов, следует отметить, что внутреннее последовательное сопротивление и поправочный коэффициент кривой должны измеряться отдельно для модуля или узла элементов. 3. — Термин «испытуемый образец» используется для обозначения любого из этих устройств.
IS 12763-1989 История
1990IS 12763-1989 Методика температурной и радиационной коррекции измеренных ВАХ фотоэлектрических устройств на основе кристаллического кремния