CSN 35 8545-1968
Методы измерения электродных обратных токов электротронных ламп

Стандартный №: CSN 35 8545-1968
Дата публикации: 1968
Разместил: CZ-CSN
состояние: снять со счета
Последняя версия: CSN 35 8545-1968

сфера применения: Процессор: Тесла Рошнов, н.п., Рошнов под Радготем: Ing. Вацлав Сеналик Сотрудник группы по стандартизации и измерениям: инж. Вацлав Проср

CSN 35 8545-1968 История

1968 CSN 35 8545-1968 Методы измерения электродных обратных токов электротронных ламп

стандарты и спецификации

DIN 44402-16:1972 Измерения электрических свойств электронных ламп и ламп; методы измерения паразитных и нежелательных электродных токов PN T01504-05-1987 Транзисторы Методы измерения Токи отсечки коллектор-база и эмиттер-база ICB0 и /?B0 DIN 44402-14:1971 Измерения электрических свойств электронных ламп; методы измерения тока эмиссии горячих катодов высоковакуумных электронных ламп и ламп GSO IEC 60151-15:2014 Измерения электрических свойств электронных ламп и ламп. Часть 15: Методы измерения паразитных и нежелательных электродных токов IS 6134 Pt.9-1981 Методы измерения электрических характеристик СВЧ-ламп Часть IX Лампа обратной волны типа SJ/Z 9010.15-1987 Измерения электрических свойств электронных ламп и ламп. Часть 15. Методы измерения паразитных и нежелательных электродных токов PN T01504-59-1987 Диоды Методы измерения Время обратного восстановления t? и обратный ток восстановления i,r ANSI/NEMA C78.375-2014 Американский национальный стандарт на люминесцентные лампы. Руководство по электрическим мерам DIN EN IEC 62442-1:2023-01*VDE 0712-28:2023-01 Энергетические характеристики лампового устройства управления

© 2025. Все права защищены.