ISO 14997:2003
Оптика и оптические приборы. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов.
- Стандартный №
- ISO 14997:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- состояние
- быть заменен
- ISO 14997:2011
- Последняя версия
- ISO 14997:2017
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт устанавливает физические принципы и практические средства реализации двух методов, указанных в ISO 10110-7, для измерения дефектов поверхности. Этими методами являются: метод I — площадь поверхности, скрытая или затронутая дефектами, и метод II — видимость дефектов. Оба метода подходят для прототипного, мелкосерийного или крупномасштабного производства широкого спектра оптических компонентов. Внешний вид дефектов или функциональные допуски, относящиеся к конкретному компоненту, могут быть определены по соглашению между поставщиком и потребителем.
ISO 14997:2003 Ссылочный документ
- ISO 10110-7:1996 Оптика и оптические приборы. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 7. Допуски на дефекты поверхности.
- ISO 11145:2001 Оптика и оптические инструменты. Лазеры и лазерное оборудование. Словарь и символы.
ISO 14997:2003 История
- 2017 ISO 14997:2017 Оптика и оптические приборы. Методы испытаний на дефекты поверхности оптических элементов.
- 2011 ISO 14997:2011 Оптика и фотоника - Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов
- 2003 ISO 14997:2003 Оптика и оптические приборы. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов.
