IEC 61967-5:2003 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение кондуктивных излучений; Метод клетки Фарадея на верстаке - Стандарты и спецификации PDF

IEC 61967-5:2003
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение кондуктивных излучений; Метод клетки Фарадея на верстаке

Стандартный №
IEC 61967-5:2003
Дата публикации
2003
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC 61967-5:2003
заменять
IEC 47A/661/FDIS:2002
 

сфера применения
В этой части стандарта IEC 61967 описан метод измерения кондуктивного электромагнитного излучения интегральных схем, применяемый либо на стандартизированной испытательной плате, либо на готовой печатной плате (PCB). Кроме того, этот стандарт определяет меры по обеспечению единых требований, описывает метод измерения и дает рекомендации по методу измерения с помощью клетки Фарадея Workbench. Поскольку измерения проводятся на столе с использованием небольшой клетки Фарадея, этот метод называется методом Workbench Cage Faraday или методом Workbench. Метод имеет высокую повторяемость и хорошую связь с измеренным радиочастотным излучением конечных приложений с использованием интегральных схем.

IEC 61967-5:2003 История

  • 2003 IEC 61967-5:2003 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение кондуктивных излучений; Метод клетки Фарадея на верстаке
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 5. Измерение кондуктивных излучений; Метод клетки Фарадея на верстаке

стандарты и спецификации

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Поправка 1. Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой DS/EN 61967-5:2003 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения, 150 кГц — 1 ГГц. Часть 5. Измерение кондуктивного излучения. Метод клетки Фарадея на рабочем месте IEC 61967-1:2018 RLV Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения VDE 0847-21-4 E*DIN EN IEC 61967-4:2019-06 Интегральные схемы — Измерение электромагнитных излучений — Часть 4: Измерение кондуктивных излучений, метод прямого соединения 1 Ом/150 Ом DIN EN IEC 61967-4:2023-08*VDE 0847-21-4:2023-08 Интегральные схемы – Измерение электромагнитных излучений DIN EN 62132-2:2011-07*VDE 0847-22-2:2011-07 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости DIN EN 62132-8:2013-03*VDE 0847-22-8:2013-03 Интегральные схемы – Измерение электромагнитной устойчивости EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение кондуктивных излучений. Метод магнитного зонда



© 2025. Все права защищены.