Целью данной части IEC 60749 является испытание и определение воздействия на все полупроводниковые электронные устройства хранения при повышенной температуре без приложения электрического напряжения. Этот тест считается неразрушающим, но его предпочтительно использовать для квалификации устройства. Если такие устройства будут использоваться для доставки, необходимо будет оценить последствия этого ускоренного стресс-теста. В целом, это испытание на хранение при высокой температуре соответствует IEC 60068-2-48, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта.
BS EN 60749-6:2002 История
2018BS EN IEC 60749-12:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация, переменная частота
2002BS EN 60749-12:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Вибрация переменной частоты.
1999BS EN 60749:1999 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний