В данной технической спецификации описан метод определения модальной структуры градиентного многомодового волокна (категория А1). Это полезно для оценки пропускной способности волокна, используемого с лазерными источниками. Зондовое пятно сканируется по торцу волокна, и задержка оптического импульса определяется в заданных положениях смещения. Разница во времени задержки оптического импульса между самым быстрым и самым медленным режимами представляет собой задержку дифференциального режима.
IEC PAS 60793-1-49:2002 Ссылочный документ
IEC 60793-1-1:1995 Оптические волокна. Часть 1. Общие характеристики. Раздел 1. Общие сведения.
IEC 60793-1-22:2001 Оптические волокна. Часть 1-22. Методы измерения и процедуры испытаний. Измерение длины.
IEC 60793-1-42:2001 Волокна оптические. Часть 1-42. Методы измерений и процедуры испытаний; Хроматическая дисперсия
IEC 60793-1-45:2001 Волокна оптические. Часть 1-45. Методы измерений и процедуры испытаний; Диаметр поля моды
IEC 60825-1:1993 Безопасность лазерных изделий. Часть 1. Требования к классификации оборудования и руководство пользователя (редакция 1.0).
IEC 60825-2:2000 Безопасность лазерных изделий. Часть 2. Безопасность волоконно-оптических систем связи.
IEC PAS 60793-1-49:2002 История
2002IEC PAS 60793-1-49:2002 Волокна оптические. Часть 1-49. Методы измерений и процедуры испытаний; Задержка дифференциального режима
IEC PAS 60793-1-49:2002 Волокна оптические. Часть 1-49. Методы измерений и процедуры испытаний; Задержка дифференциального режима было изменено на IEC 60793-1-49:2003 Волокна оптические. Часть 1-49. Методы измерений и процедуры испытаний; Задержка дифференциального режима.