IEC 62525:2007
Стандартный язык тестового интерфейса (STIL) для цифровых векторных данных испытаний

Стандартный №

IEC 62525:2007

Дата публикации

2007

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62525:2007

сфера применения

Этот стандарт определяет язык описания испытаний, который: a) облегчает передачу больших объемов цифровых векторных данных испытаний из сред CAE в среды автоматизированного испытательного оборудования (ATE); b) определяет шаблон, формат и информацию о синхронизации, достаточную для определения применения цифровых тестовых векторов к тестируемому устройству (DUT); c) Поддерживает объем векторных данных тестирования, генерируемых в результате структурированных тестов, таких как сканирование/автоматическое создание тестовых шаблонов (ATPG), интегральных методов тестирования, таких как встроенное самотестирование (BIST), и спецификаций функциональных испытаний для конструкций ИС и их сборок. в формате, оптимизированном для применения в средах ATE. При определении области действия любого стандарта некоторые вопросы определяются как не относящиеся к первоначальному проекту. Ниже приводится неполный список проблем, которые были исключены из объема этого первоначального проекта: 　——Уровни: Ключевым аспектом программы цифровых испытаний является способность устанавливать параметры напряжения и тока (уровни) для тестируемых сигналов. Управление уровнем явно не определено в текущем стандарте, поскольку эта информация одновременно компактна (не представляет проблемы при транспортировке) и обычно устанавливается независимо от цифровых данных испытаний, что требует различных механизмов поддержки, выходящих за рамки текущей области применения этого стандарта. Значения завершения могут влиять на уровни. — Информация о диагностике/поиске неисправностей. Целью настоящего стандарта является оптимальное представление данных, которые необходимо перенести в ATE. Хотя диагностические данные, данные идентификации неисправностей и данные о соответствии макросов/элементов конструкции могут попасть в эту категорию (и часто довольно объемные), этот стандарт также ориентирован на испытания интегральных схем и сборок, и большая часть анализа отладки/отказов выполняется отдельно от ATE для этих структур. Обратите внимание, что возврат информации об отказе (для анализа вне ATE) также не является частью стандарта, как он определен в настоящее время. — Механизмы регистрации данных, форматирование и контроль обычно не определены как часть настоящего стандарта. — Параметрические тесты не определены как неотъемлемая часть настоящего стандарта, за исключением дополнительных меток шаблона, которые определяют потенциальные места для параметрических тестов, таких как тесты IDDQ или временные тесты переменного тока (AC). — Ход программы: последовательность и порядок выполнения тестов не определены как часть текущего стандарта, за исключением случаев, когда это необходимо для определения наборов цифровых шаблонов, предназначенных для выполнения как единое целое. — Конструкции группирования не являются частью текущего стандарта. — Тестирование аналоговых сигналов или смешанных сигналов. Хотя это вызывает беспокойство у многих участников, на данный момент передача аналоговых тестовых данных не приводит к той же проблеме транспортировки, что и цифровые данные. — Конструкции алгоритмических шаблонов (такие как последовательности, обычно используемые для проверки памяти) в настоящее время не определены как часть стандарта. — Конструкции параллельного тестирования/многосайтового тестирования не являются неотъемлемой частью текущей среды. — Пользовательский ввод и пользовательский контроль/опции не являются частью текущего стандарта. — Инструменты определения характеристик, такие как графики shmoo, не определены как часть текущего стандарта.

IEC 62525:2007 Ссылочный документ

• ISO 2955:1983 Обработка информации; Представление СИ и других единиц в системах с ограниченным набором символов.
• ISO/IEC 9899:1999 Языки программирования — C

IEC 62525:2007 История

• 2007 IEC 62525:2007 Стандартный язык тестового интерфейса (STIL) для цифровых векторных данных испытаний