IEC 62528:2007
Стандартный метод проверки встроенных интегральных схем на базе ядра

Стандартный №

IEC 62528:2007

Дата публикации

2007

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62528:2007

заменять

IEC 93/250/FDIS:2007

сфера применения

IEEE Std 1500 разработал стандартный метод проектирования для тестирования интегральных схем (ИС), содержащих встроенные необъединяемые ядра. Этот метод не зависит от базовой функциональности микросхемы или ее отдельных встроенных ядер. Метод создает необходимые требования для тестирования таких микросхем, обеспечивая при этом простоту взаимодействия ядер, которые могут быть получены из разных источников.

IEC 62528:2007 Ссылочный документ

• IEEE Std 1149.1 Стандарт IEEE для портов тестового доступа и архитектуры граничного сканирования — Redline*， 2013-05-13 Обновление

IEC 62528:2007 История

• 2007 IEC 62528:2007 Стандартный метод проверки встроенных интегральных схем на базе ядра