IEC 62526:2007
Стандарт для расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.

Стандартный №

IEC 62526:2007

Дата публикации

2007

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62526:2007

заменять

IEC 93/248/FDIS:2007

сфера применения

Структуры определены в STIL для поддержки использования в качестве стимула моделирования полупроводников, включая (1) сопоставление имен сигналов с эквивалентными ссылками на проект, (2) интерфейс между сканированием и встроенным самотестированием (BIST) и логическим моделированием, (3) типы данных для представления неразрешенных состояний в шаблоне, (4) параллельное или асинхронное выполнение шаблона в различных блоках проекта и (5) условное выполнение конструкций шаблона на основе выражений. Структуры определяются в STIL для поддержки определения тестовых шаблонов для подблоков конструкции4 (т. е. встроенных ядер), так что эти тесты могут быть включены в полное тестирование устройства более высокого уровня. Структуры определены в STIL для связи информации о сбоях из сред тестирования устройств с исходными элементами стимулов и проектных данных.

IEC 62526:2007 История

• 2007 IEC 62526:2007 Стандарт для расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.