IEC 62132-3:2007
Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3. Метод инжекции большого тока (BCI).

Стандартный №

IEC 62132-3:2007

Дата публикации

2007

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62132-3:2007

заменять

IEC 47A/773/FDIS:2007

сфера применения

В этой части IEC 621 32 описан метод испытания с инжекцией объемного тока (BCI) для измерения устойчивости интегральных схем (IC) в присутствии кондуктивных радиочастотных помех，e．g． в результате излучаемых радиочастотных помех. Этот метод применим только к микросхемам, имеющим внешние проводные соединения. e. g．в жгут проводов．Этот метод испытаний используется для подачи радиочастотного тока на один или несколько проводов.． Этот стандарт устанавливает общую основу для оценки полупроводниковых приборов, которые будут применяться в оборудовании, используемом в средах, подверженных нежелательным радиочастотным электромагнитным сигналам.

IEC 62132-3:2007 Ссылочный документ

• IEC 62132-1:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения.

IEC 62132-3:2007 История

• 2007 IEC 62132-3:2007 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 3. Метод инжекции большого тока (BCI).