В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения коэффициента остаточного сопротивления (RRR) композитного сверхпроводника, состоящего из нитей Nb-Ti и матрицы Cu, Cu-Ni или Cu/Cu-Ni. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими монолитную структуру с прямоугольным или круглым сечением, RRR менее 350 и площадью поперечного сечения менее 3 мм2. Все измерения проводятся без приложенного магнитного поля. Метод, описанный в основной части настоящего стандарта, является «эталонным» методом, а дополнительные методы сбора данных описаны в разделе А.4.
BS EN 61788-4:2007 История
2016BS EN 61788-4:2016 Сверхпроводимость. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti и Nb3Sn
2011BS EN 61788-4:2011 Сверхпроводимость. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti
2007BS EN 61788-4:2007 Сверхпроводимость. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti.
2003BS EN 61788-4:2001 Сверхпроводимость. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti.