JEDEC JEP179-2006 Квалификация и механизмы отказов, связанные с собранными твердотельными компонентами для поверхностного монтажа, на основе стресс-тестов - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JEP179-2006
Квалификация и механизмы отказов, связанные с собранными твердотельными компонентами для поверхностного монтажа, на основе стресс-тестов

Стандартный №
JEDEC JEP179-2006
Дата публикации
2006
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Последняя версия
JEDEC JEP179-2006
сфера применения
Стандартная JEDEC DDR2 SDRAM должна всегда соответствовать требованию работы 85C tCASE(max) (байт 47, биты 4:7 = 0000). Разрешена дополнительная операция tCASE с более высоким значением, до 95C (байт 47, биты 4:7 = 1010). Если поддерживается необязательный более высокий предел tCASE, существует два варианта, которые могут поддерживаться или не поддерживаться для повышения более высокого предела tCASE. Эти два параметра определяются поставщиком: (1) требуется двойное обновление, (2) поддерживается High Temp SR. Если указана базовая DRAM, т. е. tCASE(max) 85C, две дополнительные функции не требуются (но должны быть установлены на нулевое значение по умолчанию).

JEDEC JEP179-2006 История

  • 2006 JEDEC JEP179-2006 Квалификация и механизмы отказов, связанные с собранными твердотельными компонентами для поверхностного монтажа, на основе стресс-тестов



© 2023. Все права защищены.