(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Последняя версия
JEDEC JEP134-1998
сфера применения
В настоящем Руководстве рассматривается сбор и передача соответствующей исходной информации, которая должна быть необходима аналитику отказов для выполнения точного и своевременного анализа отказов полупроводникового устройства. С этой целью включена предлагаемая форма исходных данных и пояснения к ее элементам данных.
JEDEC JEP134-1998 История
1998JEDEC JEP134-1998 Рекомендации по подготовке предоставляемой заказчиком справочной информации, касающейся анализа отказов полупроводниковых устройств