В этой части IEC 60444 описаны два метода определения паразитных (нежелательных) мод пьезоэлектрических кристаллических резонаторов. Он расширяет возможности и улучшает воспроизводимость и точность по сравнению с предыдущими методами. Предыдущие методы, описанные в IEC 60283 (1968), были основаны на использовании измерительного моста, который применяется к неотслеживаемым компонентам, таким как переменные резисторы и гибридный трансформатор, которые больше не доступны на рынке. Метод A (Полное определение параметров) Полное определение параметров позволяет определить эквивалентные параметры побочных резонансов и основано на методах, описанных в IEC 60444-5, с использованием того же измерительного оборудования. Это предпочтительный метод, который можно применять для измерения побочных резонансов с низким и средним импедансом до нескольких кОм. Метод B (Определение сопротивления) Определение сопротивления следует использовать для определения паразитных резонансов с высоким импедансом, как указано, например, для некоторых кристаллов фильтра. В нем используется то же испытательное оборудование, что и в методе А, в сочетании с испытательным приспособлением, состоящим из имеющихся в продаже СВЧ-компонентов, таких как гибридный ответвитель 180° и аттенюатор 10 дБ, которые четко распознаются в среде с сопротивлением 50 Ом. Этот метод является усовершенствованием «эталонного метода» устаревшего стандарта IEC 60283.