IEC 62374:2007
Полупроводниковые приборы. Испытание диэлектрического пробоя во времени (TDDB) для диэлектрических пленок затвора

Стандартный №

IEC 62374:2007

Дата публикации

2007

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62374:2007

заменять

IEC 47/1894/FDIS:2006

сфера применения

Настоящий международный стандарт предоставляет метод испытаний на временной пробой диэлектрика (TDDB) для диэлектрических пленок затвора на полупроводниковых устройствах и метод оценки срока службы изделия в случае отказа TDDB.

IEC 62374:2007 История

• 2007 IEC 62374:2007 Полупроводниковые приборы. Испытание диэлектрического пробоя во времени (TDDB) для диэлектрических пленок затвора