SJ 2658.10-1986
Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения модулированных широкополосных диодов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ 2658.10-1986
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1986
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- 2016-04
- быть заменен
- SJ/T 2658.10-2015
- Последняя версия
- SJ/T 2658.10-2015
SJ 2658.10-1986 История
- 2015 SJ/T 2658.10-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 10. Полоса модуляции.
- 1986 SJ 2658.10-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения модулированных широкополосных диодов
SJ 2658.10-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения модулированных широкополосных диодов было изменено на SJ/T 2658.10-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 10. Полоса модуляции..
Специальные темы по стандартам и нормам
тестирование полупроводников
инфракрасный метод
инфракрасный метод
тестирование полупроводников
Тест полосы пропускания модулятора
Полупроводник инфракрасного спектра
Полупроводниковая инфракрасная спектроскопия
Инфракрасный тест
Инфракрасный тест
Тест диодов
Метод инфракрасного тестирования
Метод инфракрасного тестирования
стандарты и спецификации
ARMY MIL-S-53085-1988 АВТОМАТИЧЕСКИЙ, ИНТЕГРИРОВАННЫЙ ИНСТРУМЕНТ ДЛЯ ОБСЛЕДОВАНИЙ [Использование: ARMY AA-52567 B, ARMY AA-52567 A, ARMY AA-52567] [Использование вместо: ARMY MIL-S
GOST 18986.24-1983 Полупроводниковые диоды. Метод измерения напряжения пробоя
GOST 18986.4-1973 Полупроводниковые диоды. Методы измерения емкости
GOST 19834.5-1980 Полупроводниковые диоды, излучающие инфракрасное излучение. Метод измерения времени переключения импульсов излучения
GOST 19834.4-1979 Полупроводниковые излучающие инфракрасные диоды. Методы измерения мощности излучения
JIS C 7031:1993 Методы измерения малосигнальных диодов
IEEE No 256-1963 Процедура испытаний IEEE для полупроводниковых диодов
GOST 18986.14-1985 Полупроводниковые диоды. Методы измерения дифференциального и наклонного сопротивлений
GOST 18986.3-1973 Полупроводниковые диоды. Метод измерения прямого прямого напряжения и прямого прямого тока