2015SJ/T 2658.1-2015 Метод измерения полупроводниковых инфракрасных диодов. Часть 1: Общие сведения
1970SJ 2658.1-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Общие правила
SJ 2658.1-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Общие правила было изменено на SJ/T 2658.1-2015 Метод измерения полупроводниковых инфракрасных диодов. Часть 1: Общие сведения.