DIN EN 60749-35:2007
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
- Стандартный №
- DIN EN 60749-35:2007
- Дата публикации
- 2007
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-35:2007-03
- Последняя версия
- DIN EN 60749-35:2007-03
- заменять
- DIN IEC 60749-35:2004
- сфера применения
- Эта часть IEC 60749 определяет процедуры проведения акустической микроскопии электронных компонентов в пластиковых капсулах. Этот стандарт представляет собой руководство по использованию акустической микроскопии для обнаружения аномалий (расслоения, трещины, пустоты в пресс-форме и т. д.) воспроизводимым и неразрушающим способом в пластиковых упаковках.#,,#
DIN EN 60749-35:2007 История
- 2007 DIN EN 60749-35:2007-03 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
- 2007 DIN EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
- 0000 DIN IEC 60749-35:2004
