SJ/Z 11352-2006
Форматы обмена данными испытаний IP-ядра интегральной схемы и спецификация руководящих принципов (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/Z 11352-2006

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2006

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/Z 11352-2006

сфера применения

В этой спецификации сформулированы формат обмена тестовыми данными и рекомендации по проектированию для тестирования (DFT, Design-for-Test) для поставщиков IP-ядер интегральных схем (далее именуемых IP). Целью данной спецификации является определение формата и характера информации, передаваемой между поставщиками IP и интеграторами IP. Кроме того, эта спецификация также устанавливает некоторые рекомендации для поставщиков IP, обеспечивающие возможность использования IP при разработке системных микросхем. Область применения формата данных охватывает описание создания, определения, обмена и интеграции IP в интегральных схемах.

SJ/Z 11352-2006 История

• 2006 SJ/Z 11352-2006 Форматы обмена данными испытаний IP-ядра интегральной схемы и спецификация руководящих принципов