IEC 61788-1:2006
Сверхпроводимость. Часть 1. Измерение критического тока. Критический постоянный ток композитных сверхпроводников Nb-Ti

Стандартный №

IEC 61788-1:2006

Дата публикации

2006

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 61788-1:2006

заменять

IEC 90/196/FDIS:2006 IEC 61788-1:1998

сфера применения

В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения постоянного критического тока либо композитных сверхпроводников Cu/Nb-Ti, у которых соотношение медь/сверхпроводник превышает 1, либо проводов Cu/Cu-Ni/Nb-Ti, которые имеют соотношение медь/сверхпроводник более 1. соотношение медь/сверхпроводник более 0,9 и соотношение медный сплав (Cu-Ni)/сверхпроводник более 0,2, где диаметр сверхпроводящих нитей Nb-Ti превышает 1 мкм. Изменения для Cu/Cu-Ni/Nb-Ti описаны в Приложении C. В Cu-Ni используется вся основная часть стандарта, за исключениями, перечисленными в Приложении C, которые заменяют (а в некоторых случаях противоречат) некоторые шаги в основном тексте. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими критические токи менее 1000 А и значения n более 12, в стандартных условиях испытаний и в магнитных полях, меньших или равных 0,7 верхнего критического магнитного поля. Во время испытаний образец для испытаний погружают в ванну с жидким гелием при известной температуре. Испытательный проводник имеет монолитную конструкцию с площадью поперечного сечения круглой или прямоугольной формы менее 2 мм2. Геометрия образца, используемая в этом методе испытаний, представляет собой образец с индуктивной обмоткой. Отклонения от данного метода испытаний, допущенные при плановых испытаниях, и другие конкретные ограничения приведены в настоящем стандарте. Испытательные проводники с критическими токами выше 1000 А или площадью поперечного сечения более 2 мм2 могут быть измерены с помощью настоящего метода с ожидаемым увеличением неопределенности и более значительным эффектом собственного поля (см. Приложение B). Другие, более специализированные, формы испытаний образцов могут быть более подходящими для испытаний проводников большего размера, которые были исключены из настоящего стандарта для простоты и сохранения меньшей неопределенности. Ожидается, что метод испытаний, приведенный в настоящем стандарте, будет применяться к другим сверхпроводящим композитным проводам после некоторых соответствующих модификаций.

IEC 61788-1:2006 История

• 2006 IEC 61788-1:2006 Сверхпроводимость. Часть 1. Измерение критического тока. Критический постоянный ток композитных сверхпроводников Nb-Ti
• 1998 IEC 61788-1:1998 Сверхпроводимость. Часть 1. Измерение критического тока. Критический постоянный ток композитных сверхпроводников Cu/Nb-Ti