IEC 61967-4:2002
Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений; 1/150 метод прямого соединения

Стандартный №

IEC 61967-4:2002

Дата публикации

2002

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 61967-4:2002/AMD1:2006

Последняя версия

IEC 61967-4:2021 RLV

заменять

IEC 47A/636/FDIS:2002

сфера применения

В этой части стандарта IEC 61967 определен метод измерения кондуктивного электромагнитного излучения (EME) интегральных схем путем прямого измерения радиочастотного (РЧ) тока с помощью резистивного зонда с сопротивлением 1 Ом и измерения ВЧ-напряжения с использованием цепи связи 150 Ом. Эти методы гарантируют высокую степень повторяемости и корреляции измерений ЭМЕ. МЭК 61967-1 определяет общие условия и определения методов испытаний.

IEC 61967-4:2002 История

• 0000 IEC 61967-4:2021 RLV
• 2017 IEC 61967-4:2002/COR1:2017 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений; Метод прямого соединения 1 Ώ/150 Ώ - Исправление 1
• 2006 IEC 61967-4:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений; 1/150 метод прямого соединения
• 2006 IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 Поправка 1. Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений. Метод прямой связи 1/150.
• 2002 IEC 61967-4:2002 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 4. Измерение кондуктивных излучений; 1/150 метод прямого соединения

стандарты и спецификации