SJ/Z 9016-1987
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ/Z 9016-1987
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1987
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- Последняя версия
- SJ/Z 9016-1987
- заменить на
- GB 4937-1985
- сфера применения
- В этом стандарте перечислены методы испытаний, применимые к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам). Вы можете выбирать из них, когда используете их. Для бесполостейных устройств могут потребоваться дополнительные методы испытаний. Примечание. Бесполые устройства — это устройства, в которых упаковочный материал находится в тесном контакте со всеми открытыми поверхностями матрицы без какого-либо пространства. В этом стандарте в максимально возможной степени учтен стандарт SJ/Z 9001-87 (IEC № 68) «Основные процедуры испытаний на воздействие окружающей среды».
SJ/Z 9016-1987 История
- 1987 SJ/Z 9016-1987 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.
стандарты и спецификации
EN IEC 60947-5-2:2020 Аппаратура распределительная и управляющая низковольтная. Часть 5-2. Устройства цепей управления и коммутационные элементы. Бесконтактные выключатели
BS EN IEC 60947-5-2:2020+A11:2022(2023) Низковольтное распределительное устройство и аппаратура управления Часть 5-2. Устройства цепей управления и коммутационные элементы. Бесконтактные выключатели
IEC 60749-26:2018 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 26. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель человеческого тела (HBM).