SJ 20233-1993
Регламент поверки системы испытания дискретных полупроводниковых приборов модели IMPACT-II (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ 20233-1993
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- Последняя версия
- SJ 20233-1993
- сфера применения
- Настоящая процедура калибровки определяет условия калибровки, объекты калибровки, методы калибровки, обработку результатов калибровки и цикл калибровки системы тестирования дискретных полупроводниковых приборов типа IMPACT-II. Настоящие правила проверки применимы к проверке системы тестирования полупроводниковых дискретных устройств IMPACT-II. Для проверки системы тестирования полупроводниковых дискретных устройств типа IMPACT-Ⅲ. Вы также можете обратиться к этой процедуре.
SJ 20233-1993 История
- 1970 SJ 20233-1993 Регламент поверки системы испытания дискретных полупроводниковых приборов модели IMPACT-II
