Данный документ представляет собой международный технический стандарт, разработанный для определения толщины металлических и оксидных покрытий с использованием оптической микроскопии. Методология, изложенная в этом тексте, позволяет измерять толщину слоев на плоских образцах путем подготовки поперечного среза и последующего анализа полученного изображения под микроскопом. Процедура включает в себя подготовку образца, его инкорпорацию, шлифовку, полировку и травление для обеспечения четкой визуализации границ между покрытием и подложкой. Основное внимание уделяется точности измерений и воспроизводимости результатов при использовании микроскопии в отраженном или проходящем свете. Описываемый подход применяется в промышленности для контроля качества и соответствия материалов требованиям к нанесенным слоям. Документ описывает необходимые инструменты и процедуры калибровки, а также критерии оценки полученного сечения. Данный материал служит руководством для лабораторий и производственных предприятий, занимающихся анализом поверхности изделий из различных металлов.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
© 2026. Все права защищены.