SJ 20920-2005
Общие характеристики системы коррекции ионосферной рефракции для внешних баллистических измерений методом дифференциального допплера (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ 20920-2005

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2005

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ 20920-2005

сфера применения

Настоящая спецификация определяет требования, правила обеспечения качества, подготовку поставки и т.д. к системе дифференциальной доплеровской коррекции ионосферной рефракции для внешних баллистических измерений (далее - «система»). Настоящие спецификации применяются к разработке, проверке и приемке системы коррекции ионосферной рефракции дифференциального доплеровского метода для внешних баллистических измерений.

SJ 20920-2005 Ссылочный документ

• GJB 151A-1997 Требования к электромагнитному излучению и чувствительности военной техники и подсистем
• GJB 152A-1997 Измерения электромагнитного излучения и чувствительности военной техники и подсистем
• GJB 179A-1996 Процедуры и таблицы выборочного контроля подсчета
• GJB 437-1988 Спецификации разработки военного программного обеспечения
• GJB 899-1990 Лист изменений к квалификационным и приемочным испытаниям надежности 1-98

SJ 20920-2005 История

• 2005 SJ 20920-2005 Общие характеристики системы коррекции ионосферной рефракции для внешних баллистических измерений методом дифференциального допплера